Promocje
Opus Magnum C++ 11. Programowanie w języku C++
Opus Magnum C++ 11. Programowanie w języku C++
149,00 zł 113,24 zł
egz
Produkt dnia
Byłbym zapomniał...
Byłbym zapomniał...
39,90 zł 31,12 zł
egz
Nie i Tak. Adam Ferency w rozmowie z Mają Jaszewską
Nie i Tak. Adam Ferency w rozmowie z Mają Jaszewską
39,90 zł 31,12 zł

Laserowe skanery pomiarowe

Dostępność: brak towaru
Cena: 28,00 zł 28.00
ilość egz
do schowka
Ocena: 0
Producent: Oficyna Wyd.Politechniki Warszawskiej
Kod produktu: 00_A7873

Opis

autor: Jabłoński Ryszard
rok wydania: 2013
ilość stron: 152
oprawa: miękka
format: B5
ISBN: 9788378141358
EAN: 9788378141358

Celem monografii jest kompleksowe przedstawienie zagadnień związanych z zastosowaniem laserowych metod skaningowych w pomiarach. Książka przeznaczona jest dla szerokiego grona odbiorców, reprezentujących różne dziedziny nauki i techniki, w tym głównie studentów i pracowników naukowo-badawczych wyższych uczelni technicznych.
 
Materiał przedstawiono tak, aby czytelnik ogólnie zapoznany z możliwościami jakie stwarza wiązka laserowa w pomiarach, mógł bez trudu zrozumieć jak wielki potencjał zawiera się w skanerach i skaningowej technice pomiarowej. W monografii zawarte są także praktyczne i nowatorskie treści będące wskazówkami przyszłego rozwoju technik skaningowych (jak np. parametr jakości wiązki M2, oraz analiza dyfrakcyjnych efektów krawędziowych).


SPIS TREŚCI:

Przedmowa 7
Wykaz najważniejszych oznaczeń 8

1. Wstęp 9
Bibliografia 11

2. Skanowanie 12
2.1. Wprowadzenie 12
2.2. Skanery pasywne 14
2.3. Skanery aktywne 15
Bibliografia 16

3. Skanery laserowe 17
3.1. Wprowadzenie 17
3.2. Skanery piszące 18
3.3. Skanery czytające 19
3.4. Skanery czytająco-piszące 20
3.5. Skanery poosiowe 21
3.6. Skanery poprzeczne 23
3.7. Konfiguracja pracy skanera 24
3.8. Prowadzenie wiązki 26
Bibliografia 27

4. Skanery pomiarowe 29
4.1. Laserowe pomiary skaningowe 29
4.1.1. Pomiar średnic 29
4.1.2. Rozwiązania stosowane w urządzeniach komercyjnych 33
4.1.3. Pomiar chropowatości 35
4.2. Czynnik aperturowy 37
4.3. Rozdzielczość skanowania 39
4.4. Powiększenie skanera 44
Bibliografia 45

5. Wiązka laserowa 47
5.1. Lasery stosowane w skanerach 47
5.2. Parametry wiązki 48
5.2.1. Wiązka gaussowska 48
5.2.2. Mody podłużne 51
5.2.3. Mody poprzeczne 52
5.2.4 Pomiar średnicy wiązki 55
5.2.5 Parametr jakości wiązki M 2 60
5.2.6. Moc wiązki 66
Bibliografia  67

6. Układy odchylania wiązki (kątowe i liniowe) 69
6.1. Wprowadzenie 69
6.2. Deflektory elektromechaniczne 71
6.2.1. Deflektory poligonalne 72
6.2.2. Deflektory galwanometryczne 74
6.2.3. Deflektory rezonansowe 75
6.3. Deflektory holograficzne 78
6.4. Deflektory elektrooptyczne 79
6.5. Deflektory akustooptyczne 80
6.6. Deflektory MEMS 82
6.7. Porównanie parametrów deflektorów 85
Bibliografia 86

7. Układ optyczny 88
7.1. Wprowadzenie 88
7.2. Soczewki flat-field 90
7.3. Soczewki  f-θ 92
7.4. Zniekształcenia wprowadzane przez soczewki 95
Bibliografia 99

8. Techniki pomiarowe. Rozwiązania 100
8.1. Wybrane metody. Wstępna analiza niedokładności 100
8.2. Bezpośredni pomiar kąta odchylenia 110
8.3. Wyznaczenie położenia krawędzi metodą dyfrakcyjną 113
8.3.1. Wiadomości wstępne 113
8.3.2. Rozszerzony model dyfrakcji Younga-Rubinowicza 114
8.3.3. Stanowisko pomiarowe 123
8.3.4. Ostra krawędź a obiekt 3D 124
8.3.5. Wpływ położenia elementu mierzonego 127
8.3.6. Dyfrakcyjna metoda pomiaru średnic wałków 129
Bibliografia 131

9. Błędy w pomiarach skaningowych średnic 134
9.1. Błąd systematyczny pomiaru średnicy laserowym przyrządem skanującym 134
9.2. Równanie pomiaru średnicy skanerem 143
9.3. Przedział ufności dla pomiaru średnic skanerem 147
Bibliografia 150

10. Podsumowanie 151

do góry
Sklep jest w trybie podglądu
Pokaż pełną wersję strony
Sklep internetowy Shoper.pl