Promocje
Opus Magnum C++ 11. Programowanie w języku C++
Opus Magnum C++ 11. Programowanie w języku C++
149,00 zł 113,24 zł
egz
Produkt dnia
Byłbym zapomniał...
Byłbym zapomniał...
39,90 zł 31,12 zł
egz
Nie i Tak. Adam Ferency w rozmowie z Mają Jaszewską
Nie i Tak. Adam Ferency w rozmowie z Mają Jaszewską
39,90 zł 31,12 zł

Metrologia wielkości geometrycznych. Zagadnienia wybrane

1.jpg
  • promocja
Dostępność: dostępna
Wysyłka w: 48 godzin
Cena: 32,62 zł 43,50 zł 32.62
ilość egz
do schowka
Ocena: 0
Producent: Politechnika Łódzka
Kod produktu: 00_94977

Opis

autor: Józef Zawada
rok wydania: 2011
ilość stron: 207
oprawa: miękka
format: B5
ISBN: 9788372834584

 

Skrypt jest adresowany przede wszystkim do tych studentów Wydziału Mechanicznego Politechniki Łódzkiej, którzy w swoich programach studiów maja przedmioty: Metrologia wielkości geometrycznych lub Miernictwo warsztatowe.

Głównym powodem napisania niniejszego skryptu była konieczność uzupełnienia treści przekazywanych słuchaczom w ramach prowadzonych zajęć. Wymiar godzinowy tych zajęć (15 godzin wykładu + 15 godzin zajęć laboratoryjnych na studiach dziennych oraz 10 godzin wykładu + 10 godzin zajęć laboratoryjnych na studiach zaocznych) nie pozwala bowiem na przekazanie wszystkich najistotniejszych zagadnień wchodzących w zakres metrologii wielkości geometrycznych.

Poza treściami uzupełniającymi wykład skrypt zawiera również treści przekazywane w ramach wykładu. Dla osób uczestniczących w zajęciach stanowi to istotne ułatwienie, ogranicza bowiem w znacznym stopniu ilość wykonywanych notatek, co pozwala na lepsza percepcje przekazu. Dla osób mających trudności z percepcja przekazu werbalnego i nieuczestniczących z tego powodu w zajęciach wykładowych oraz dla osób, które opuściły wykład z przyczyn losowych, skrypt stanowi swego rodzaju substytut wykładu.

Ze względu na niewielki wymiar czasu, który studenci zobowiązani są poświęcić na naukę przedmiotu, konieczna okazała się ostra selekcja wykładanych zagadnień. Przy ich wyborze kierowano się zasada, że wykładać należy przede wszystkim te zagadnienia, z którymi słuchacze maja największe szanse zetknięcia się w praktyce zawodowej. Dlatego np. przy prezentacji sprzętu większą uwagę poświęcono powszechnie stosowanym, drobnym i tanim przyrządom, jak suwmiarki, mikrometry, różnego rodzaju czujniki czy tradycyjne mikroskopy warsztatowe, a znacznie mniejsza zaawansowanym technologicznie, drogim i w związku z tym znacznie rzadziej spotykanym urządzeniom, jak maszyny do pomiaru w układzie trzech współrzędnych, interferometry laserowe, profilografy, konturografy czy mikroskopy z komputerowa analiza obrazu. Z zakresu prezentowanych treści zdecydowano się także usunąć cały kompleks zagadnień związanych z pomiarami chropowatości i falistości powierzchni. Aby wyraźnie zasygnalizować przyjęte ograniczenia, planowany początkowo tytuł skryptu – „Metrologia wielkości geometrycznych” zastąpiono bardziej adekwatnym – „Metrologia wielkości geometrycznych. Zagadnienia wybrane”.

Skrypt jest adresowany przede wszystkim do tych studentów Wydziału Mechanicznego Politechniki Łódzkiej, którzy w swoich programach studiów maja przedmioty: Metrologia wielkości geometrycznych lub Miernictwo warsztatowe.

Skrypt składa się z siedmiu rozdziałów. Zadanie pierwszego z nich, czyli „Wprowadzenia” zostało już przedstawione. Rozdział drugi – „Wybrane zagadnienia z podstaw metrologii” stanowi krótkie kompendium wiedzy z zakresu metrologii ogólnej ze wskazaniem źródeł zawierających bardziej szczegółowe informacje. Rozdział ten zamieszczono dlatego, że nie wszyscy studenci, do których adresowany jest niniejszy skrypt, uczestniczyli w zajęciach z „Podstaw metrologii”. Dla tych, którzy uczestniczyli, rozdział ten może stanowić pomoc w „odświeżeniu sobie” poznanych wcześniej wiadomości.
W rozdziale trzecim – „Charakterystyka parametrów opisujących kształty elementów materialnych” zamieszczono elementarne wiadomości dotyczące modeli wielkości geometrycznych. Ze względu na ograniczona objętość skryptu również w tym przypadku konieczne okazało się odesłanie czytelników do materiałów źródłowych (głównie norm) zawierających bardziej szczegółowe informacje na ten temat.
W rozdziale czwartym zawarto informacje dotyczące najbardziej popularnych grup narzędzi do pomiaru długości i kata. Informacje te są z reguły podawane w układzie: definicja grupy, klasyfikacja wewnątrz grupy, zasady działania poszczególnych odmian, przykłady istniejących w praktyce rozwiązań wraz z ich podstawowymi parametrami metrologicznymi. Głównym celem zamieszczenia tego rozdziału było podanie informacji umożliwiających podjecie właściwych decyzji przy doborze narzędzi do realizacji różnego rodzaju zadań pomiarowych.
W rozdziale piątym przedstawiono zagadnienia związane z projektowaniem pomiarów. Wyjaśniono pojecie optymalnej dokładności kontroli, podano sposób praktycznego wyznaczania odpowiadającej jej niepewności pomiaru oraz wykorzystania wyznaczonej wartości niepewności w celu doboru właściwych narzędzi pomiarowych. W rozdziale szóstym przedstawiono wymagania, które muszą spełniać laboratoria pomiarowe, aby wyniki ich badan mogły być uznawane w skali międzynarodowej.
Ostatni, siódmy rozdział zawiera wykaz wykorzystanej literatury: książek, artykułów, norm, aktów prawnych i stron internetowych.

 

SPIS TREŚCI:

1. WPROWADZENIE 5

2. WYBRANE ZAGADNIENIA Z PODSTAW METROLOGII 9
2.1. Modelowanie obiektów i zdarzeń 9
2.2. Podstawowe pojęcia metrologiczne 10
2.3. Układy wielkości. Układy jednostek. Układ SI 16
2.4. Błędy pomiarów 19
2.4.1. Definicje i klasyfikacje błędów 19
2.4.2. Zasady szacowania wartości błędów wypadkowych 26
2.5. Ogólna charakterystyka środków pomiarowych 28
2.5.1. Klasyfikacja środków pomiarowych 28
2.5.2. Użytkowe narzędzia pomiarowe 29
2.6. Metody pomiarowe 33
2.7. Pomiary wielokrotne 40

3. CHARAKTERYSTYKA PARAMETRÓW OPISUJĄCYCH KSZTAŁTY ELEMENTÓW MATERIALNYCH 43
3.1. Wymiary liniowe – rodzaje i parametry 43
3.2. Wymiary kątowe 49
3.3. Odchyłki kształtu i położenia 51
3.4. Parametry opisujące strukturę geometryczna powierzchni 51

4. PRZEGLĄD UNIWERSALNEGO SPRZĘTU DO POMIARÓW WIELKOŚCI GEOMETRYCZNYCH 52
4.1. Wzorce długości 52
4.1.1. Płytki wzorcowe długości 53
4.1.2. Szczelinomierze 62
4.1.3. Wałeczki pomiarowe 64
4.1.4. Kulki pomiarowe 66
4.2. Wzorce kata 67
4.2.1. Pryzmy wielościenne 67
4.2.2. Płytki wzorcowe kata 68
4.2.3. Kątowniki 71
4.3. Wzorce prostoliniowości i płaskości 74
4.4. Przyrządy suwmiarkowe 77
4.5. Przyrządy mikrometryczne 84
4.6. Czujniki 92
4.6.1. Czujniki mechaniczne 92
4.6.2. Czujniki optyczne 100
4.6.3. Czujniki elektryczne 102
4.6.4. Czujniki pneumatyczne 114
4.7. Kątomierze 118
4.8. Poziomnice 121
4.9. Elektroniczne narzędzia pomiarowe 125
4.9.1. Elektroniczne przetworniki położenia 125
4.9.2. Elektroniczne przyrządy pomiarowe 138
4.9.3. Elementy systemów automatycznego przetwarzania danych pomiarowych 142
4.9.4. Systemy przetwarzania danych pomiarowych 146
4.10. Mikroskopy warsztatowe 149
4.11. Projektory pomiarowe 155
4.12. Długościomierze 160
4.13. Maszyny współrzędnościowe 168
4.13.1. Informacje ogólne 168
4.13.2. Zasada pomiaru 168
4.13.3. Podstawowe zespoły i układy maszyn współrzędnościowych 170
4.13.4. Zespoły nośne 170
4.13.5. Zespół układów pomiarowych 175
4.13.6. Głowice pomiarowe 176
4.13.7. Napęd i sterowanie 180
4.13.8. Zespoły obliczeniowe 181

5. WYBRANE ZAGADNIENIA Z ZAKRESU PROJEKTOWANIA ZADAŃ KONTROLNO-POMIAROWYCH 184
5.1. Optymalna dokładność kontroli 184
5.2. Dobór metod i narzędzi pomiarowych 192

6. LABORATORIA − RODZAJE, ZADANIA, WYMAGANIA 195
6.1. Rodzaje laboratoriów 195
6.2. Zadania laboratoriów 196
6.3. Wymagania dotyczące laboratoriów 196
6.4. Warunki uznawania wyników badan 204

LITERATURA 205
Pozycje drukowane [Lxx] 205
Strony internetowe [Sxx] 206

 

do góry
Sklep jest w trybie podglądu
Pokaż pełną wersję strony
Sklep internetowy Shoper.pl